步(bu)入式(shi)高低溫交變(bian)濕(shi)熱(re)試驗室對(dui)待(dai)測(ce)物(wu)品(pin)的(de)試驗(yan)前準備

　　步入式(shi)高低溫交變(bian)濕(shi)熱(re)試驗室在眾(zhong)多工(gong)業領域(yu)，如(ru)電子(zi)、汽(qi)車(che)、航空(kong)航天等(deng)，被(bei)廣(guang)泛(fan)用(yong)於(yu)測(ce)試產(chan)品在不同環境(jing)條件(jian)下(xia)的(de)性(xing)能和(he)可(ke)靠(kao)性(xing)。在進行(xing)試驗(yan)之前，對待(dai)測(ce)物(wu)品(pin)的(de)準備工(gong)作至關重要，它(ta)直接影(ying)響(xiang)到試驗(yan)結(jie)果的(de)準確(que)性(xing)和(he)有(you)效(xiao)性(xing)。

　　1.對待測(ce)物(wu)品(pin)進行(xing)全面(mian)的(de)外觀檢(jian)查(zha)

　　仔(zai)細查(zha)看物(wu)品(pin)表(biao)面(mian)是(shi)否(fou)有(you)劃痕、裂(lie)紋、變(bian)形或(huo)其他(ta)明(ming)顯(xian)的(de)物(wu)理損傷。任何已(yi)有(you)的(de)損傷都可(ke)能在試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong)進壹步惡(e)化，或(huo)者(zhe)影(ying)響(xiang)試驗數(shu)據的(de)真實性(xing)。對於電子(zi)設備，如(ru)果外殼(ke)有(you)破(po)損，可(ke)能會導致(zhi)內部電路在高低溫交變(bian)環境(jing)下(xia)更容易受到(dao)濕(shi)氣(qi)侵(qin)入，從(cong)而引發短(duan)路等故(gu)障，使(shi)試驗(yan)結(jie)果不能準(zhun)確(que)反映產品(pin)正(zheng)常(chang)狀態下的(de)性(xing)能。
 

　　2.對(dui)物(wu)品(pin)進行(xing)清潔處(chu)理

　　清除表(biao)面(mian)的(de)灰塵(chen)、油汙(wu)、雜(za)質等。灰塵(chen)和(he)雜(za)質可(ke)能會影(ying)響(xiang)物(wu)品(pin)的(de)散(san)熱性(xing)能，在高溫試驗(yan)時(shi)導致(zhi)局(ju)部溫度過(guo)高；油汙(wu)則可(ke)能在濕(shi)熱(re)環境(jing)下(xia)發生化學反應(ying)，腐蝕(shi)物(wu)品(pin)表(biao)面(mian)或(huo)影(ying)響(xiang)其電氣(qi)性(xing)能。對於壹些(xie)精密儀器，如(ru)光學設備，即(ji)使微(wei)小(xiao)的(de)灰塵(chen)顆粒也可(ke)能幹擾光(guang)路，影(ying)響(xiang)測(ce)試結(jie)果。

　　3.根據(ju)試驗要(yao)求(qiu)在待(dai)測(ce)物(wu)品(pin)上(shang)合(he)理布(bu)置(zhi)溫度、濕(shi)度(du)等傳感器(qi)

　　傳(chuan)感(gan)器的(de)位置(zhi)選擇(ze)要具(ju)有(you)代(dai)表(biao)性(xing)，能夠(gou)準(zhun)確反映物(wu)品(pin)在試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)環境(jing)參(can)數(shu)變化(hua)。對(dui)於(yu)大型(xing)的(de)電子(zi)產品，可(ke)在其(qi)內部發熱源附近(jin)、關鍵電路部位以及(ji)外殼(ke)等(deng)不同位(wei)置(zhi)布(bu)置(zhi)傳(chuan)感(gan)器，以便全面(mian)了(le)解產品(pin)在高低溫交變(bian)濕(shi)熱(re)環境(jing)下(xia)的(de)溫度分(fen)布和(he)濕(shi)度(du)響(xiang)應(ying)情況(kuang)。同時(shi)，要確(que)保傳感器(qi)安(an)裝牢(lao)固，並(bing)且(qie)與(yu)物(wu)品(pin)表(biao)面(mian)接觸良(liang)好(hao)，避免(mian)在試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong)因(yin)振動或(huo)其他(ta)因(yin)素(su)導(dao)致(zhi)傳感(gan)器移(yi)位或(huo)脫(tuo)落。

　　4.對物(wu)品(pin)進行(xing)標(biao)識(shi)和(he)記(ji)錄

　　詳(xiang)細記(ji)錄物(wu)品(pin)的(de)型號、規(gui)格、批次(ci)、生(sheng)產廠(chang)家等(deng)基本信息，以及(ji)試驗(yan)前的(de)初始(shi)狀態，如(ru)初始(shi)性(xing)能參數(shu)、外觀特征(zheng)等(deng)。這(zhe)些(xie)信(xin)息(xi)有(you)助(zhu)於(yu)在試(shi)驗結束後(hou)對(dui)數(shu)據進行(xing)分析和(he)對(dui)比(bi)，準確(que)判斷(duan)試驗對物(wu)品(pin)性(xing)能的(de)影(ying)響(xiang)。標(biao)識(shi)則方便(bian)在試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong)對(dui)不同物(wu)品(pin)進行(xing)區分(fen)和(he)管(guan)理，防(fang)止混淆(xiao)。

　　5.將(jiang)待(dai)測(ce)物(wu)品(pin)小(xiao)心(xin)地放(fang)置(zhi)在試(shi)驗室內(nei)規(gui)定位(wei)置(zhi)

　　放(fang)置(zhi)時(shi)要確(que)保物(wu)品(pin)擺(bai)放(fang)平(ping)穩，避免(mian)傾(qing)斜(xie)或(huo)晃動，並且(qie)要(yao)保證物(wu)品(pin)周圍(wei)有(you)足夠(gou)的(de)空間(jian)，以便空(kong)氣能夠(gou)自(zi)由流(liu)通(tong)，使(shi)試(shi)驗環境(jing)的(de)溫度和(he)濕(shi)度(du)能夠(gou)均勻(yun)地作(zuo)用(yong)在物(wu)品(pin)上(shang)。

　　在步(bu)入式(shi)高低溫交變(bian)濕(shi)熱(re)試驗室進行(xing)試驗(yan)前，對待(dai)測(ce)物(wu)品(pin)的(de)充(chong)分準(zhun)備是(shi)試(shi)驗(yan)成功(gong)的(de)關鍵壹(yi)步(bu)。只有(you)做好(hao)這(zhe)些(xie)準(zhun)備工(gong)作，才(cai)能(neng)在試(shi)驗過(guo)程(cheng)中(zhong)獲(huo)得(de)準確(que)、可(ke)靠(kao)的(de)數(shu)據，為產品(pin)的(de)研(yan)發、改(gai)進和(he)質量控制提供有(you)力(li)的(de)依據(ju)，推(tui)動相(xiang)關行(xing)業的(de)技術(shu)進步和(he)產(chan)品質量提升。