小(xiao)型高低溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)(小(xiao)型)是用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)電子(zi)產(chan)品、元器(qi)件(jian)、塑膠、金(jin)屬(shu)等(deng)材料在高溫(wen)、低溫(交變)循(xun)環(huan)變 化的情況(kuang)下(xia)各(ge)項性能指標的儀(yi)器(qi)設備。因為(wei)體(ti)積小、可(ke)放(fang)置實(shi)驗(yan)桌上(shang)操(cao)作(zuo)廣受(shou)消費(fei)者青(qing)睞(lai)。永(yong)丞(cheng)桌(zhuo)上型高低溫試(shi) 驗(yan)箱(xiang)可(ke)做(zuo)-60℃~+150℃,具體(ti)規(gui)格(ge)需求(qiu)要與(yu)本公(gong)司銷售(shou)人(ren)員核(he)實(shi)確認。